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2026-08-02 27 电子行业报告
随着摩尔定律推进速度放缓,DRAM技术工艺也逐渐步入了瓶颈期。从技术角度上看,随着晶体管尺寸越来越小,芯片 上集成的晶体管就越多,这意味着一片芯片能实现更高的内存容量。目前DRAM芯片工艺已经突破到了10nm级别,虽然 10nm还不是DRAM的最后极限,但多年来随着DRAM制程节点不断缩小,工艺完整性、成本、电容器漏电和干扰等方面的挑 战愈发明显,要在更小的空间内实现稳定的电荷存储和读写操作变得日益困难。根据Tech Insights分析,通 过增高电容器减小面积以提高位 密度(即进一步减小单位存储单 元面积)的方法即将变得不可行。 因为用于电容器制造的刻蚀和沉 积工艺无法处理极端(高)的深 宽比。半导体行业预计能够在单 位存 储单 元面 积达到 约10.4E- 4µm2前(也就是大约2025年) 维持2D DRAM架构。随着线宽进入10nm范围,电容器漏电和干扰等物理限制的问题明显增加。物理极限(如量子隧穿效应、漏电流增加、 热稳定性下降等)、材料科学挑战(如电介质厚度减少导致的电容减小、泄漏电流增大等)以及制造工艺的精密控制要求, 都使得DRAM在继续沿用2D方式缩小器件尺寸(如所谓的4F² 缩放)时遭遇严重阻碍。为了补救这种情况,产业界引入了 high-k材料和极紫外(EUV)光刻设备等新材料和新设备。

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